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日本ceramic forum半導(dǎo)體分析裝置測量結(jié)晶 HERA FT1230 DLTS方法是一款高感度測量結(jié)晶缺陷導(dǎo)致的電子狀態(tài)的良好方法。 即便是內(nèi)在微小的雜質(zhì)或格子缺陷也會很大程度上影響半導(dǎo)體材料性能，所以此類測量非常重要。

日本nogami電極拆卸手沖精確測量紐扣電池用 用于沖壓原型紐扣電池的正負(fù)極材料， 精確的面積重量測量以及用于質(zhì)量控制的樣品處理。 20年來支持國內(nèi)外電池開發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)工具。

日本bunkoukeiki傳感器光譜靈敏度?測量 VC-250 該裝置測量光電二極管和CCD/CMOS圖像傳感器等光電轉(zhuǎn)換元件的光譜特性（光譜靈敏度和光譜響應(yīng)）。 我們實時監(jiān)控每個波長的光量，并使用我們的控制機(jī)制，以恒定的能量（W/cm 2）和每個波長的光子數(shù)（光子/cm 2 ）照射單色光。

日本oji-keisoku便攜式橢圓偏振儀測量裝置 PAM-PTB100 本裝置是測量通過平板等偏振板射出的光的偏振狀態(tài)的裝置。一次測量6波長的橢圓率（a/b）和橢圓方位角（Ψ）。測量部和控制器分離，可在任意狀態(tài)下進(jìn)行測量。

日本oji-keisoku超高相位差雙折射測量裝置 PAM-UHR100 本裝置以透明試樣為對象，通過平行尼可光譜法測定數(shù)千至2萬nm左右的相位差及取向角。通過輸入薄膜厚度，自動計算雙折射N。

日本oji-keisoku光軸測量裝置配向角位相差 PAM-PR300 對光學(xué)薄膜偏振軸方位、取向角及相位差值進(jìn)行測定 無需個人差異，可簡便且短時間內(nèi)測量

日本oji-keisoku相位差測量平行尼科耳旋轉(zhuǎn) KOBRA-WFD0系列 1.從超低相位差（2nm以下）到超高相位差（20000nm以下）的廣泛測量范圍2.高精度的測量特別是取向角的高精度化，實現(xiàn)長期穩(wěn)定的測量3.日常維護(hù)，減少消耗部件標(biāo)準(zhǔn)采用LED光源，無需更換光源燈4.與KOBRA-W系列共用樣品支架、可選夾具可共用5.考慮操作性與KOBRA-W系列相比較大的開口部

日本oji-keisoku相位差/橢球偏振測量裝置 KOBRA-HB系列 1.從超低相位差（2nm以下）到超高相位差（20000nm以下）的廣泛測量范圍2.高精度的測量特別是取向角的高精度化，實現(xiàn)長期穩(wěn)定的測量3.日常維護(hù)，減少消耗部件標(biāo)準(zhǔn)采用LED光源，無需更換光源燈4.與KOBRA-W系列共用樣品支架、可選夾具可共用5.考慮操作性與KOBRA-W系列相比較大的開口部