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2024-10-13
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日本syscom薄膜/藥品等測量儀彈性儀質構儀 NDS-1000 受歡迎的類型,緊湊,輕量,價格低廉 同時評估液體、各種凝膠、薄膜和固體材料的彈性和粘度! 還可以選擇使用介電分析同時進行 DEA-DMA 測量。
2024-10-13
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153
日本syscom動態(tài)粘彈性測量裝置質構儀流變儀 NDS-1000 受歡迎的類型,緊湊,輕量,價格低廉 同時評估液體、各種凝膠、薄膜和固體材料的彈性和粘度! 還可以選擇使用介電分析同時進行 DEA-DMA 測量。
2024-10-13
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日本katsura全視場波前像差測量裝置全自動 AW-1000 這是一種可以全自動測量鏡頭光軸上和離軸波前像差的設備。
2024-10-12
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日本katsura自準直儀角度高精度測量裝置 MS-2000 該設備非常適合評估和檢查智能手機和其他設備中安裝的具有傳感器移位圖像穩(wěn)定功能的相機模塊執(zhí)行器。 通過使用特殊的專用目標,可以高精度地同時測量目標物體的六項:傾斜(θX,θY)、位移(Z)、位置(X,Y)和旋轉(θ)。
2024-10-12
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nisshooptical鹵素光源目視檢查測量儀日本 AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置,結合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF(自動對焦)跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動對焦驅動可實現(xiàn)快速、易于使用的測量,并具有高重復性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺階形狀的同時進行測量,因此可以實時識別測量屏幕上的高度,從而輕松確定需要測量的區(qū)域。
2024-10-12
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日本nisshooptical半導體激光器測量裝置 AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置,結合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF(自動對焦)跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動對焦驅動可實現(xiàn)快速、易于使用的測量,并具有高重復性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺階形狀的同時進行測量,因此可以實時識別測量屏幕上的高度,從而輕松確定需要測量的區(qū)域。
2024-10-12
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日商精光nisshooptical光學系統(tǒng)測量深高度 AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置,結合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF(自動對焦)跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動對焦驅動可實現(xiàn)快速、易于使用的測量,并具有高重復性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺階形狀的同時進行測量,因此可以實時識別測量屏幕上的高度,從而輕松確定需要測量的區(qū)域。
2024-10-12
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